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엑스선 3차원 나노 컴퓨터 단층촬영 시스템

구축연도
2025년 구축
약칭
CT
제조사
TESCAN
모델명
Unitom HR
담당자명
KTL 최원렬 연구원
문의전화
031-500-0462

장비 사용 용도

- 반도체 소자의 특성 평가
- 칩 내부 미세균열, 배선연결상태 및 응력 검사
- 반도체 웨이퍼 내부 결함 평가
- 기판과 칩 사이 접착 상태 평가
- 반도체 생산효율 향상을 위한 공정모니터링

주요스펙

- X-ray source(Transmission source) : 30 ~ 160 kV
- Max target power : 25 W or better
- Line-pair spatial resolution : 0.6 micron or less
- Maximum Loading weight : 25 kg or better
- 3D reconstruction

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